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產品詳情
簡單介紹:
四川重慶強勢供應日本日立HITACHI日立高分辨率FEB測長儀器
四川重慶強勢供應日本日立HITACHI日立高分辨率FEB測長儀器
詳情介紹:
日本日立HITACHI高分辨率FEB測長儀器CG5000(HITACHI CD-SEM) 的詳細介紹
高生產性
此裝置革新了運送機器的結構構成(包括裝、卸部件以及平臺速度和停止精度的提高),實現(xiàn)AF的高速化,通過可變像素實現(xiàn)測長區(qū)域的 優(yōu)化,從而縮短MAM時間,與以往相比,提高了約40%的處理能力。
高分辨率
此裝置通過改良電子光學技術及圖像處理技術(降噪,改善邊緣銳度,圖像內部暗部強調),改善了Image Sharpness。
長期穩(wěn)定性