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產(chǎn)品名稱：重慶強勢供應日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置
產(chǎn)品型號：CS4800
產(chǎn)品廠商：日立HITACHI
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

重慶強勢供應日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置重慶強勢供應日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置

詳情介紹：

日本日立HITACHI高解析度FEB測量裝置CS4800（CD-SEM） 的詳細介紹

日本日立HITACHI高解析度FEB測量裝置CS4800（CD-SEM）搭載日立***技術(shù)的CD-SEM CS4800兼容4、6、8英寸晶圓的CD測量，提供高解析度的SEM成像，更高的測量精度和快速自動化操作，將有助于提高客戶現(xiàn)有生產(chǎn)線的生產(chǎn)力。此外用戶可以通過簡單的操作處理自動搬送兩種不同尺寸的晶圓。日立計劃支持對應碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）等各種材料的晶圓，以滿足客戶對半導體電子器件生產(chǎn)的多樣化需求。成都西野供應日本日立HITACHI高解析度FEB測量裝置CS4800（CD-SEM）
考慮了更換現(xiàn)有設備或共同使用情況下的設備占地面積和GUI*1
通過**設備的研發(fā)經(jīng)驗，搭載了高精度測量技術(shù)和*新的計量應用。
通過光學軸自動化調(diào)整，減少了由于操作員熟練度而造成的測量偏差。
更高的圖像處理技術(shù)，實現(xiàn)Recipe自動測量并提高產(chǎn)能。
新的晶圓搬送系統(tǒng)兼容4,6,8英寸多尺寸晶圓。

*1: GUI (Graphic User Interface):使用計算機的圖形顯示器和鼠標等指示設備的軟件操作系統(tǒng)。

測量精度	1nm（3σ）（采用日立標準晶圓）
晶圓尺寸	直徑 100mm, 150mm, 200mm
自動裝片裝置	2個
設備尺寸（主體）	1180（寬）× 2500（長）× 1990（高）毫米

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產(chǎn)品名稱：重慶強勢供應日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置