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產(chǎn)品名稱：日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置，成都強(qiáng)勢供應(yīng)
產(chǎn)品型號(hào)：CG6300
產(chǎn)品廠商：日立HITACHI
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡單介紹：

日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置，成都強(qiáng)勢供應(yīng) 日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置，成都強(qiáng)勢供應(yīng)

詳情介紹：

日本日立HITACHI高解析度FEB測量裝置CG6300（HITACHI CD-SEM） 的詳細(xì)介紹

高解析度能夠高精度測量7 nm generation devices
提高深槽·孔的尺寸測量和材料對(duì)比度的可視性
通過選擇性能強(qiáng)化二次電子和被背向散射電子信號(hào)來提高對(duì)比度成像
包括高速掃描在內(nèi)的多種掃描方式取得減少帶電的清晰圖像
搭載新設(shè)計(jì)的高速芯片載臺(tái)搬送系統(tǒng)

晶圓尺寸	Φ300 mm （SEMI 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格 V notched wafer）
自動(dòng)裝片	3 FOUP*4 -compatible random access
電源	單相AC200V、208V、230V、12kVA（50/60Hz）

*4: FOUP（Front-Opening Unified Pod）：半導(dǎo)體工廠的制式正面開口式cassette 一體型搬送、保管箱

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粵公網(wǎng)安備 51012402000291號(hào)

產(chǎn)品名稱：日本日立HITACHI日立高解析度FEB測量裝置，成都強(qiáng)勢供應(yīng)